X熒光光譜儀是一種常見的光譜儀器，常用于實驗室檢測元素，那么我們在使用X熒光光譜儀分析時，也會出現干擾譜線的來源因素，今天創(chuàng)想小編就給大家歸納一下。
X射線管：
靶材本身：干擾線可能來自靶元素及有關雜質的發(fā)射線。
長期使用影響：長期使用中，燈絲及其他有關構件的升華噴濺或其他原因，可能導致靶面或管窗的玷污，從而產生干擾線。
激發(fā)源問題：X射線管構件受激發(fā)或陰極電子束的不適當聚焦，也可能產生干擾線。
樣品：
樣品中其他元素發(fā)射的干擾線，尤其是強度較大的圖表線，可能會對分析線或參比線造成干擾。
元素間干擾或基體效應：
某些元素之間可能存在元素間干擾或基體效應，這些會影響X射線熒光光譜儀的分析結果。
譜線重疊：
在X射線熒光光譜儀的分析中，有些元素可能會有全部或部分譜線重疊，這也會帶來干擾。
康普頓線：
來自康普頓線或X射線管中目標產生的特征線也是可能的干擾來源。
金相組織的誤差：
由于分析目標元素的密度受樣品的質量吸收系數的影響，且數學模型假設為均質物質，因此金相組織的誤差也可能帶來干擾。
固體進樣的性質和樣品與標準樣品表面性質的差異：
分析偏差可能由固體進樣的性質和樣品與標準樣品表面性質的差異造成，這同樣會影響分析結果的準確性。
為了消除或減輕這些干擾譜線的影響，操作人員可以采取一系列措施，如更換適當靶材的X射線管、選擇適當的分析晶體、使用濾光片、優(yōu)化探測和測量系統(tǒng)的工作條件等。
創(chuàng)想臺式X熒光光譜儀